これまで、MI技術は各種国際会議での報告を続けていますが、その代表例を以下のとおり紹介させていただきます。

1. 抵抗1μΩから1TΩでの校正と比率精度の検証

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抵抗1μΩから1TΩでの校正と比率精度の検証
MI社長デュアンブラウンがAPMP2010で、抵抗計測の基本から最新状況を報告しました。
APMP 2010 Calibration and ratio traceabi
PDFファイル 312.9 KB

2. 高抵抗計測の為、 デュアルソースブリッジの活用

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高抵抗計測の為、デュアルソース技術と高分解能の計測器の活用
MI社長デュアンブラウンがNCSLI2013 Nashvilleで、高抵抗校正の基本から最新状況(デュアルソースブリッジ)を報告しました。テラオーム(10^12)レベルをppmオーダの不確かさで校正できることを紹介しています。デュアルソースメータ(製品)をMI標準室に導入し、不確かさを低減、サービスを向上させています。
Japanese REG_2013.PRE.1169.1904.pdf
PDFファイル 493.9 KB

3. 北米での1Ω 巡回校正試験

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北米での1Ω 巡回測定試験
カナダNRCがNCSLI2015で、北米での1Ω巡回測定の結果を報告しました。MIは、この活動に協賛しました。
North America 1 ohm Inter-laboratory com
PDFファイル 1.8 MB

4. ケースレー殿がMI6000システムを紹介

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NCSLI 2011 ワークショップで高抵抗計測システムを紹介
10kΩ~1GΩの校正に活用できる抵抗校正システムを紹介されています。
Keithley & MI6000.pdf
PDFファイル 1.7 MB

ケースレーの一次標準室の使用機器の説明です。

 

ednのホームページで、ケースレー標準室の技術報告をされました。

5. NRCC(カナダ国研)が技術報告

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MIブリッジ6010QとCCCを校正比較
NRCC技術者が6010QとCCCの比較実験を行い、その結果を報告しますた。
intercomparison_6010Q_CCC.pdf
PDFファイル 194.8 KB

6. インドNPLが技術報告

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QHRをMIブリッジ6010Qを使って評価
インド国研(インドNPL)技術者がQHRを6010Qで評価、その結果を報告しました。
QHR tested by 6010Q A01.2(01455).pdf
PDFファイル 214.0 KB

7. NISTが報告

  レンジエクステンダ付自動直流抵抗ブリッジの技術報告をNIST技術者が報告しました。

  (3000Aまで)

 

0.1mΩのRxに10Aから100Aまでの電流を流し、温度係数を評価し報告しています。

 

Technical Note

Measurement Techniques for Evaluating Current Range Extenders from 1 Ampere to 3000 Amperes

Marlin Kraft

NCSLI Measure J. Meas. Sci.

Vol. 7 No. 3 September 2012

 

論文中で、”automated binary DCC bridge”の記述は****を意味します。

 

8. 韓国校正機関KRISS BIPMとの比較試験結果を報告

  標準抵抗器1Ωを使って、KRISSの校正能力を確認した。(MI6010Qを活用したと報告)

 

論文:

https://www.bipm.org/utils/common/pdf/rapportBIPM/2004/01.pdf